Microscopie internationale à sonde à balayage 2020 (ISPM) + Microscopie à sonde à balayage sur matériaux souples et polymères (SPMonSPM)

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La conférence conjointe de 2020 sur la microscopie internationale à sonde à balayage (NIMP) et la microscopie à sonde à balayage sur les matériaux mous et polymères (SPMonSPM) vise à réunir un large éventail de chercheurs en microscopie à sonde à balayage (SPM) du monde entier. La conférence représente une fusion des 22Dakota du Nord hébergement de l'ISPM et du 5e hébergement de SPM sur SPM. La conférence réunira des utilisateurs allant de la biologie, la science des polymères, l'énergie, l'informatique et au-delà, liés par un intérêt commun dans le rôle de la SPM pour élucider de nouveaux phénomènes physiques et chimiques. Des chercheurs juniors et seniors de l'industrie, du milieu universitaire et des institutions gouvernementales présenteront leurs derniers développements. L'environnement favorisera de nouvelles idées et collaborations dans plusieurs disciplines. Le format comprendra des conférences plénières distinguées, des conférences invitées, des conférences, des affiches et une exposition.

Soumissions de résumés

Les organisateurs accueillent favorablement la soumission de résumés techniques pour des présentations orales ou par affiche au 2020 i (SPM)3. Veuillez utiliser le modèle ci-joint pour préparer vos résumés d'une page:

Résumés attendus le 24 janvier

jason.killgore (at) nist.gov (sujet: ISPM2020AbstractSubmission, corps: Presenter% 20First% 20Name% 3A% 0ALast% 20Name% 3A% 0AAffiliation% 3A% 0AContact% 20email% 20address% 3A% 0AAbstract% 20title% 3A% 0APoster% 20 préféré% 20 oui% 2Fno% 3F% 20 (par défaut% 20is% 20Oral% 20 préféré)% 0AIntéressé% 20in% 20soumis% 20a% 20full% 20article% 20for% 20a% 20special% 20issue% 20of% 20Ultramicroscopy% 3F% 20Yes% 2Fno% 3F ) (SOUMETTRE PAR COURRIEL)

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